缺陷检测方法、电子设备及存储介质

本申请的实施例提供了一种缺陷检测方法、电子设备及存储介质，方法包括：获取红外检测数据，对红外检测数据进行增强，得到多个红外增强检测数据，针对每个红外增强检测数据，确定红外增强检测数据中的第一目标图像，将各第一目标图像输入至待训练的缺陷识别模型，得到第一目标图像对应的多个融合图像，基于各融合图像，计算各融合图像与融合图像对应的标签的损失，对各损失进行加权求和，得到加权求和值，基于各加权求和值对待训练的缺陷识别模型的参数进行调整，以得到训练好的缺陷识别模型，基于训练好的缺陷识别模型对待检测数据进行缺陷检测，能够提高缺陷检测的效率和精度。