单粒子翻转故障注入方法及平台

本发明公开一种单粒子翻转故障注入方法及平台，包括将待测模块复制为故障注入电路和非故障注入电路，且故障注入电路与非故障注入电路中相同时序单元之间连接状态存储单元；控制电路结构单元中的故障注入电路和非故障注入电路在相同的时钟下运行特定数量的周期，并将此时非故障注入电路的逻辑值保存至状态存储单元；向目标电路结构单元中的故障注入电路注入单粒子翻转故障，根据目标电路结构单元的运行状态判断是否出现故障；若是则根据相应状态存储单元中的逻辑值对目标电路结构单元的运行状态进行修复；否则对目标电路结构单元所对应状态存储单元中存储的逻辑值进行更新，进行下一次故障注入；本发明可实现连续快速的SEU故障注入和修复。