一种激光器芯片自动测试设备及其测试方法

本发明涉及芯片测试技术领域，且公开了一种激光器芯片自动测试设备及其测试方法，包括传输机构，所述传输机构还包括有设备底座，本发明利用设备在进行传输时，激光芯片的水平位置将发生变化，以及激光芯片侧面存在输出端的特点，在使用前，将所选加工的激光芯片放置在旋转盘的顶部，并接通动力马达的电源，动力马达通过转动轮带动传输皮带开始传输工序，其中摩擦板的位置高于传输皮带的横向中轴线，在设备开始旋转时，处于上方的驱动盘将与摩擦板的侧面接触，处于下方的驱动盘不与摩擦板的侧面接触，驱动盘因为摩擦板的限制，将沿着摩擦板的外壁进行转动，而该转动的力通过转动柱传输至旋转盘，使放置在旋转盘顶部的激光芯片同步旋转。