基于半导体切筋工序的监测优化系统及方法

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
基于半导体切筋工序的监测优化系统及方法
申请号:CN202410941430
申请日期:2024-07-15
公开号:CN118469105A
公开日期:2024-08-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于半导体切筋工序的监测优化系统及方法,属于监督或预测目的的数据处理方法领域,系统包括:数据采集单元;数据分析处理单元;优化建议生成单元;反馈执行单元;学习提升模块。通过安装在半导体生产线上的多种传感器,系统能够实时收集切筋过程中的关键参数数据,如切割速度、切割力度、切割角度和切割温度。这些数据为后续的分析提供了基础,使得问题能够在发生之初就被识别和处理,极大地提高了生产效率和产品质量,并且数据分析处理单元利用机器学习算法来分析采集到的数据,可以准确地识别出切筋过程中的潜在问题或效率低下环节。这种智能化的数据处理方式,相较于传统的手动分析,不仅效率高,而且准确性也大幅提升。
技术关键词
半导体 数据采集单元 机器学习算法 处理单元 数据采集器 安全监控模块 人机交互接口 数据处理方式 读取传感器 表达式 监测刀具 参数 样本 代表 数据处理方法 刀具材料 速度传感器
系统为您推荐了相关专利信息
智能算法模块 减排管理系统 数据分析模块 减排策略 云存储模块
报告生成方法 多模态 分析单元 信息处理单元 图像特征向量
半导体组件 冷藏室 风道组件 防凝露冰箱 制冷风机
电网信息系统 通信接头 加解密算法 硬件序列号 身份
混合神经网络模型 李雅普诺夫指数 故障电弧检测 电流 采集电缆