集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质

本发明涉及电子技术测试的技术领域。本申请涉及一种集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质，包括获取集成电路测试信息，根据集成电路测试信息匹配测试配置文件，根据测试配置文件，得到预设的测试信号，将预设的测试信号输入到待测试的集成电路，采集输出信号，得到集成电路分析结果，将集成电路分析结果与预设分析结果进行比较，生成测试报告。本申请具有实现集成电路测试的准确性和效率的效果。