一种基于BIM+CIM技术的质量检验批的自动定位系统

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一种基于BIM+CIM技术的质量检验批的自动定位系统
申请号:CN202411072407
申请日期:2024-08-06
公开号:CN119249110B
公开日期:2025-04-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及建筑检验技术领域,具体公开了一种基于BIM+CIM技术的质量检验批的自动定位系统,包括:获取建筑结构数据,并基于建筑结构数据构建BIM在建建筑模型,将BIM在建建筑模型导入至CIM数据平台中;基于BIM在建建筑模型的建筑尺寸数据以及BIM在建建筑模型在CIM平台中的定位数据,对BIM在建建筑模型进行数据匹配;获取建设建筑检验批,基于检验批中建设建筑检验所获得建设进度缓慢信号或建设用料异常信号,得到检验批中建设进度缓慢信号或建设用料异常信号下的定位,通过BIM模型对建筑进行模型的构建,并进行检验批的检测,保证建设建筑的标准性和统一性,便于对工程质量进行统一管理和控制。
技术关键词
建筑模型 自动定位系统 数据平台 异常信号 偏差 建筑材料 建筑检验技术 坐标点 BIM模型数据 匹配模块 建筑构件 坐标系 尺寸 定位模块 顶点
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