一种基于DETR的印制电路板缺陷检测方法及装置

本申请涉及印制电路板检测技术领域，公开了一种基于DETR的印制电路板缺陷检测方法及装置，其方法包括基于预设的骨干网络模型，从待检测图像中捕捉并提取特征图；采用预设的RT_DETR模型，结合多头自注意力机制对特征图中的同尺度特征进行深度融合，对特征图中的不同尺度特征进行跨尺度特征融合，得到多尺度特征序列；利用IoU感知查询选择机制从多尺度特征序列筛选出包含目标物体的多尺度特征序列，得到目标特征序列；通过RT_DETR模型，对目标特征序列进行预测，运用边界框回归技术调整预测框的边界，得到印制电路板缺陷的边界框和对应的置信度分数。本申请具有实现印制电路板缺陷的实时快速检测与稳定性的效果。