一种LED芯片测试管理方法及系统

本发明提供一种LED芯片测试管理方法及系统，该方法包括以下步骤：对晶圆片的修正数据进行比对，若晶圆片异常，将第一抽测校准数据与标准值进行比对，以判断与第一抽测校准数据对应的各芯片的合格率是否大于预设值；若合格率大于预设值，按坐标数据求各第一抽测校准数据的变化率的线性回归线的斜率；若斜率小于预设值，则判定晶圆片合格。通过在芯片测试完成后，针对晶圆片数据异常，即HOLD晶圆进行分析，若该部分芯片合格率大于预设值，且斜率小于预设值则自动判定晶圆片合格，通过新增该部分的异常数据分析，对符合条件的异常晶圆片自动解除HOLD，减少了因数据误差大，造成的异常晶圆数量偏高的问题的影响，提高生产加工效率。