电离层延迟确定方法、装置、设备、存储介质及产品
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电离层延迟确定方法、装置、设备、存储介质及产品
申请号:
CN202411658210
申请日期:
2024-11-19
公开号:
CN119738840A
公开日期:
2025-04-01
类型:
发明专利
摘要
本申请提供一种电离层延迟确定方法、装置、设备、存储介质及产品。该方法包括:基于观测站针对电离层得到的观测数据,确定电离层的当前电子信息和当前离子信息;基于所述当前电子信息和所述当前离子信息进行反演,得到电离层在第一时刻下的第一电子信息和第一离子信息;根据所述第一电子信息和所述第一离子信息进行电离层仿真,得到电离层仿真结果;基于所述电离层仿真结果确定电离层对应的电子数密度和电子含量变化率;根据所述电子数密度和所述电子含量变化率,确定电离层延迟。
技术关键词
离子
计算机程序指令
密度变化信息
求解算法
方程
物理
参数
连续性
时间段
计算机程序产品
梯度下降算法
可读存储介质
反演模型
处理器
电子设备
速度
数据
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