多晶封装芯片的片内测温装置及封装芯片

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多晶封装芯片的片内测温装置及封装芯片
申请号:CN202411722297
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119480675A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开一种多晶封装芯片的片内测温装置及封装芯片,涉及半导体技术领域,便于优化芯片的片内测温结构。所述装置包括:传感器模块,设置于封装芯片的每个晶粒中,配置为感知表征每个晶粒温度的电信号;其中,每个晶粒之间通过导线互联,并包括至少一个主控晶粒;所述主控晶粒,集成有信号处理模块,所述信号处理模块与所述传感器模块相连,配置为接收所述表征每个晶粒温度的电信号,并根据所述电信号确定所述封装芯片的片内温度信息。由于所有晶粒的传感器模块共用一个信号处理器模块进行信号的处理和温度获取,便于优化芯片的片内测温结构,从而可以降低芯片的结构复杂性。本发明适用于高性能计算设备中。
技术关键词
封装芯片 信号处理模块 传感器模块 测温装置 温度校准 电信号 温度测量误差 温度传感器 测温结构 机制 导线 电压传感器 信号处理器 电流传感器 三极管 非线性 二极管 电源
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