一种电子信息工程用芯片检测设备

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一种电子信息工程用芯片检测设备
申请号:CN202411730003
申请日期:2024-11-29
公开号:CN119438219B
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片检测技术领域,尤其涉及一种电子信息工程用芯片检测设备,包括底座,所述底座上对称固定设置有两个撑板,两个所述撑板上均固定设置有侧板,两个所述侧板之间转动设置有两个转辊,一侧所述侧板上固定设置有电机,一端所述转辊的轴杆转动贯穿侧板与电机的输出端固定连接,两个所述转辊上套设有输送带,所述输送带上均匀固定设置有若干连接杆,每个所述连接杆上均固定设置有放置台。本发明能够持续的向相机下侧输送待检测的芯片,芯片在到达相机下侧时自动完成对相机和放大镜的擦拭以及自动控制相机完成拍摄,通过相机与放大镜快速获取各个芯片的放大图片,大大提高检测效率和检测准确度,还能够根据芯片的不同快速更换放置台,提高了适应性。
技术关键词
芯片检测设备 电子信息工程 清理板 放大镜 相机 抬升机构 芯片检测技术 顶板 清洁机构 滑板 撑板 滑杆 倾斜侧壁 卡块 背板 快门 推板 底座 弹簧
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