一种微波测试探针台及其使用方法

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一种微波测试探针台及其使用方法
申请号:CN202411833307
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119510834A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种微波测试探针台及其使用方法。所述微波测试探针台包括:支撑架;测试台,所述测试台固定连接在支撑架的顶部,所述测试台的顶部靠近一侧的位置安装有探针台,所述探针台的顶部开设有放置口,所述放置口内壁的两侧均开设有固定口,两个所述固定口之间通过两个抽拉组件安装有活动框,所述活动框的顶部开设有活动槽,所述活动框的底部安装有第一气缸,所述第一气缸的伸缩端安装有对接环,所述对接环的外表面等间距安装有六个第二气缸。本发明提供的微波测试探针台,通过该设计可以让平台在探针台上可以进行多方位精准快速且稳定的的调节方位,可以更快更高效的让探针和芯片对齐,从而有利于提高芯片测试的效率。
技术关键词
测试探针台 测试台 微波 抽拉组件 气缸 网络分析仪 平台 芯片 调节组件 调节底座 控制箱 活动扣 正面 多方位 气泵 间距 防护壳
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