封装半导体激光器的缺陷图像生成方法、装置及计算设备

本发明公开了一种封装半导体激光器的缺陷图像生成方法、装置及计算设备，方法包括：获取封装半导体激光器的实物图像；对封装半导体激光器进行建模和渲染，以生成引线缺陷渲染图像；利用变分自编码器，将实物图像和引线缺陷渲染图像映射到潜在空间，得到对应的实物潜在变量和引线缺陷渲染潜在变量；从实物潜在变量和引线缺陷渲染潜在变量中分别提取实物风格特征和缺陷内容特征；基于实物风格特征和缺陷内容特征生成实物风格引线缺陷潜在变量；利用变分自编码器的解码器，对实物风格引线缺陷潜在变量进行重构，得到实物风格引线缺陷图像。本发明能实现方便、快速、高效地生成高质量的封装半导体激光器的缺陷图像数据集。