校准方法与校准系统

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校准方法与校准系统
申请号:CN202411937660
申请日期:2024-12-26
公开号:CN120385966A
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了校准方法和校准系统。描述了对测试仪器进行校准的校准方法,测试仪器包括至少一个端口、至少一个信号分析模块和至少一个信号发生器模块。至少一个信号分析模块和至少一个信号发生器模块各自连接到至少一个端口。校准方法包括以下步骤:将校准标准件集合相继地连接到至少一个端口,并且针对已连接的每个校准标准件执行校准测量,从而获得第一组测量数据;基于多端口误差模型和第一组测量数据,确定多端口误差模型的多个误差项,其中误差项中的至少一者包括两个误差参数的乘积;将附加校准标准件连接到至少一个端口;在附加校准标准件已连接的情况下执行校准测量,从而获得第二组测量数据;和基于第二组测量数据确定两个误差参数。
技术关键词
校准标准件 校准方法 误差参数 信号发生器模块 误差模型 信号分析模块 测试仪器 校准系统 多端口 校准装置 信号分析器 矢量网络分析器 定向耦合器 矢量信号发生器 数据 模数转换器
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