一种芯片全自动筛选、检测及打包机台

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一种芯片全自动筛选、检测及打包机台
申请号:CN202411962083
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119565925A
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片全自动筛选、检测及打包机台,其全自动送料,且对芯片全面进行检测,确保筛选后的芯片质量稳定可靠。其包括:wafer上下料模块,其包括第一天车对接平台、wafer搬运机械臂、晶圆工作台;芯片搬运及检测模块,其由三组定位相机、转塔搬运机构、中转校正机构、5S检测机构组成;Tray工作台模组,其包括两个Tray工作台、正面AOI视觉检测机构组成;芯片整合及打包模块,其由整合模块、Tray夹持整合臂、束带机、标签打印机;以及Tray上下料模块,其由第二天车对接平台、Tray搬运机械臂组成。
技术关键词
AOI视觉检测 芯片 搬运机构 搬运机械臂 工作台模组 转塔 对接平台 打包机 标签打印机 自动供料系统 相机 打包模块 转运机构 检测机构 晶圆 束带 校正机构 检测结构
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