相控阵设备测试方法及系统
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相控阵设备测试方法及系统
申请号:
CN202510077115
申请日期:
2025-01-17
公开号:
CN119881815A
公开日期:
2025-04-25
类型:
发明专利
摘要
本发明提供了一种相控阵设备测试方法及系统,其中,所述方法包括:基于所述配置信息和所述测试参数,对输入的测试数据执行与所述测试模式相应的应用层处理,和对应用层处理结果数据执行数据重构,以获得与相控阵设备适配的相控阵数据流;将所述相控阵数据流下发至所述相控阵设备中,使所述相控阵设备根据所述相控阵数据流执行相应的相控阵操作,并返回相控阵操作结果;本申请可以适配不同的相控阵设备,不仅提升了通用性,还显著提高了相控阵测试的效率。
技术关键词
设备测试方法
相控阵单元
数据处理单元
天线单元
芯片
外部设备
数据适配模块
参数
传输单元
时序
重构
数据移位
模式
控制模块
输入端
输出端
关系
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