一种用于封装基板检测的自动化系统

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一种用于封装基板检测的自动化系统
申请号:CN202510161963
申请日期:2025-02-14
公开号:CN120107180B
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于封装基板检测的自动化系统,涉及数据加密技术领域,包括,数据采集模块,用于采集多视角图像数据,对多视角图像数据进行预处理;特征提取模块,用于对预处理后的多视角图像数据进行特征提取;特征图融合模块,用于基于提取的特征图,通过图像配准算法将特征图进行配准融合,构成基板的三维特征图;缺陷概率预测模块,用于构建缺陷识别模型,基于基板的三维特征图预测基板缺陷概率;缺陷等级评估模块,用于根据基板缺陷概率,预测基板缺陷程度评分,根据基板缺陷程度评分评估基板缺陷等级,并生成基板检测报告。本发明实现了多种缺陷类型的智能化识别与评估,显著提升了检测的精度和自动化水平。
技术关键词
自动化系统 封装基板 图像配准算法 纹理特征 缺陷类别 边缘检测算法 三维卷积神经网络 特征提取模块 Softmax函数 多视角 曲面重建算法 数据采集模块 轮廓特征 霍夫变换算法 生成三维点云 表达式
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