一种硒鼓芯片批量检测方法

本发明涉及硒鼓芯片检测技术领域，公开了一种硒鼓芯片批量检测方法，包括以下步骤：S1：确定检测目标与标准；S2：搭建虚拟化环境；S3：准备模拟测试环境；S4：芯片测试；S5：模拟使用场景测试；S6：收集测试数据；S7：分析测试结果；S8：实际抽查检测；S9：结果对比；S10：重复检测，本发明利用虚拟化技术和模拟测试相互结合的方式，利用虚拟化技术创建多个虚拟检测环境，并在每个环境中运行模拟测试软件，通过模拟测试软件模拟硒鼓芯片的工作状态和检测流程，验证检测软件的准确性和可靠性，根据模拟测试结果，对检测流程进行优化和改进，以提高检测效率和准确性。