一种提高暗室测试效率的方法

本发明涉及天线测试技术领域，涉及一种提高暗室测试效率的方法，包括以下步骤：采用多线程架构分别独立地运行机械臂控制线程、仪器控制线程、数据处理线程及界面显示操作线程；在机械臂控制线程下，实时地采集机械臂的位置信息，将位置信息传输至数据处理线程；在仪器控制线程下，连续地读取测试仪器的信号数据，将信号数据传输至数据处理线程；在数据处理线程下，将位置信息和信号数据与构建的数据字典进行数据匹配，将匹配结果传输至界面显示操作线程；在界面显示操作线程下，根据匹配结果生成二维方向图。本发明通过优化软件架构与多线程协同控制，可提升暗室测试效率及精度。