光储逆变器的测试方法及系统

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光储逆变器的测试方法及系统
申请号:CN202410843966
申请日期:2024-06-27
公开号:CN118393265B
公开日期:2024-09-03
类型:发明专利
摘要
本申请涉及光储逆变器测试技术领域,公开了一种光储逆变器的测试方法及系统。所述方法包括:设置光储逆变器的测试参数集合;将测试参数集合传输至预设的三端口测试电源,并控制三端口测试电源中的多个输出电路进行测试参数响应,生成初始输出电路参数;对光储逆变器进行运行测试并采集输出性能和功能数据,以及计算得到多个目标监测指标;获取光储逆变器的多个标准监测指标,并计算多个标准监测指标和多个目标监测指标之间的监测指标差异数据;根据监测指标差异数据对三端口测试电源的输出电路进行电路参数调整,得到三端口测试电源的目标输出电路参数,本申请提高了光储逆变器的测试准确率并且提升了光储逆变器的性能和功能。
技术关键词
三端口 长短期记忆网络 特征值集合 指标 参数 编码向量 电路 测试方法 电源 时序特征 粒子群优化算法 逆变器测试技术 DCAC变换器 曲线 数据 DCDC变换器
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