一种万用表校准检测方法、设备、产品及存储介质
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一种万用表校准检测方法、设备、产品及存储介质
申请号:
CN202411136205
申请日期:
2024-08-19
公开号:
CN118938112A
公开日期:
2024-11-12
类型:
发明专利
摘要
一种万用表校准检测方法、设备、产品及存储介质,涉及万用表领域,该方法包括:实时监测当前环境参数,该当前环境参数包括当前温度、当前湿度和当前气压;根据该当前环境参数计算该当前环境参数对万能表的影响参数;若该影响参数大于预设影响阈值,将该当前环境参数输入至预设环境参数‑校正参数映射模型中,得到该当前环境参数对万能表的影响值;基于补偿算法将该影响值转换为校正参数调整值;根据该校正参数调整值对该万能表的检测数据进行校正,得到校正数据,实施该方法,可以提高在环境因素影响下的万用表测量准确性。
技术关键词
校准检测设备
万用表
万能表
测量误差数据
校正
校准检测方法
参数
测量误差值
电路仿真模型
补偿算法
计算机程序代码
生成校准信号
计算机程序产品
变化趋势预测
元器件
客户端
存储器
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