芯片测试方法及电路

本发明提供一种芯片测试方法及电路，其中的芯片测试方法包括：获取待检测芯片的眼图，并基于所述眼图获取基准测试点以及位于所述基准测试点周围的至少一个边缘测试点；基于测试数据信号对所述基准测试点和所述边缘测试点进行检测，并分别输出所述基准测试点和所述边缘测试点的检测结果；根据所述基准测试点和所述边缘测试点的检测结果确定所述待检测芯片的上下限值是否满足要求。利用上述发明能够有效的提高芯片的边缘测试效率及准确度。