一种显影辊图像缺陷检测方法、电子设备和存储介质

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一种显影辊图像缺陷检测方法、电子设备和存储介质
申请号:CN202411974465
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119887709B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本申请涉及显影辊缺陷检测技术领域,是关于一种显影辊图像缺陷检测方法、电子设备和存储介质,包括:将待检显影辊的外表层等分划分为N个待检区域;分别获取N个该待检区域的图像,得到N个第一区域图像;依次对于N个该第一区域图像进行预处理,得到N个第二区域图像;分别计算N个该第二区域图像与预设标准图像的相似度,得到N个相似度系数;分别比较N个该相似度系数与预设相似阈值的大小;若N个该相似度系数之中存在小于第一预设阈值的情况时,则确定该待检显影辊为缺陷显影辊。本申请提供的方案能够实现对待检显影辊进行自动化检测和筛选,提高显影辊的检测效率和检测精确度。
技术关键词
图像缺陷检测方法 显影辊 振纹缺陷 非暂时性机器可读存储介质 坐标 图像传感器 像素点 卷积神经网络模型 电子设备 缺陷检测技术 元素 处理器 报告 轮廓 线条 气泡 弹性体
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