摘要
本发明公开了一种半导体器件结构及其制备方法和芯片,属于半导体器件技术领域。半导体器件结构,包括金银合金凸块和UBM层,其中UBM层由种子层、扩散阻挡层和粘附层组成,或者由扩散阻挡层和粘附层组成;所述扩散阻挡层由铂族元素单质和/或包含铂族元素的合金构成,优选由铂、铑、铱或它们的合金构成;金银合金凸块底部与种子层或扩散阻挡层连接,粘附层与芯片电极连接。本发明通过对UBM层的改进,提高金银合金凸块与UBM层的结合可靠性,获得的半导体器件结构能够通过高端芯片可靠性测试,实现金银合金替代金制备倒装芯片。