一种全自动芯片检测分选机

本发明提供一种全自动芯片检测分选机，包括底座、储料机构、搬运机构、取料机构、顶针机构和分选载台，分选载台设置在底座的一端，与分选载台相对设置的储料机构贯穿底座的另一端设置，取料机构设置在分选载台上且位于分选载台与储料机构之间，设置在分选载台上方的搬运机构底部与底座连接，顶针机构从分选载台的下方贯穿底座后嵌入分选载台内部的通孔设置，储料机构在竖直方向上调节高度后，通过取料机构抓取储料机构中的物料移动至分选载台上，通过分选载台调整物料的位置后，通过顶针机构对分选载台上的物料进行顶起，使搬运机构吸附顶起的物料搬运至检测设备，然后通过检测设备对芯片进行全方位检测，并进行贴标签、打包装、下料。