一种用于芯片测试的探针台

本发明公开了一种用于芯片测试的探针台，包括支撑脚，还包括喷气组件、前后驱动组件、左右平移组件和变形组件，支撑脚顶部固定连接有机体，机体背面底部固定连接有驱动箱。本发明，固定横板和变形弧板表面的灰尘和杂质可能会附着在芯片或探针上，导致电气连接不良或信号干扰，从而影响测试结果的准确性，通过定期清洁固定横板和变形弧板表面，可以确保测试环境的纯净度，减少外界因素对测试结果的影响，同时灰尘和杂质中的微小颗粒可能对芯片表面或探针尖端造成划伤或磨损，长期积累会缩短探针的使用寿命，通过对变形弧板和固定横板清洁表面可以减少这种物理损伤的风险，保护测试设备和被测芯片。